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产品简介：

8* 25G误码测试仪(HBT1840D)是一款8通道、高速率的高性能误码分析仪器。该仪器可同时提供8个通道进行误码测试，每个通道均支持10G/25G多种速率，并有多种码型可选，支持用户自定义码型设置；极性可自由翻转，支持定时和连续两种测试模式，配备USB及RS232通讯接口，方便操作。

参数特点：

• 通道模式：8个电通道接口可并行工作

• 通道模式：8个电通道接口可并行工作

• 码       型：PRBS7、PRBS9、PRBS15、PRBS23、PRBS31、8:8 bit square、USERDEF 

• 速       率：9.95328G、10.1376G、10.3125G、10.52G、10.664G、10.709G、11.096G、11.318G、14.025G、20.2752G、22G、24G、24.33G、25.344G、25.78125G、26G、26.56G、27.952G、28.05G、28.2G、30G、32G 

• 时       钟：提供4路时钟信号，可以设置触发时钟分频系数

• 输出幅值：100mV、200mV、300mV、400mV 

• 输出极性翻转：正常、翻转

• EQ 设 置：可设置EQ参数

• 测试时间设定：无定时(连续测试)、30秒、2分钟、10分钟、30分钟、自定义定时

• 时       间：支持时间显示和设置

• 通讯接口：支持USB、串口、网口通讯，使用上位机软件控制

产品应用： 

• 光收发模块（CFP2/CFP4/QSFP28/SFP28）研发和生产，特别是并行100G产品

• 光器件/子系统研发和生产

• 系统设备供应商来料质量检验和生产

• 系统设备的安装和故障解决

技术参数：